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Descripción general de TOPAZ32

COSTE BAJO TOTAL

Con el software integrado UltraVision, es la solución completa

TOPAZ32 es un sistema de UT de Phased Array completamente integrado. La compatibilidad de sonda de arreglo matricial 2D se incluye sin necesidad de software externo. Este enfoque simplificado y completamente integrado puede reducir la cantidad de equipos necesarios para realizar una inspección. Alimentado con baterías de alta densidad y larga vida útil, es un instrumento independiente que puede realizar:

  • La configuración y calibración de la inspección
  • La adquisición y el análisis de datos
  • La elaboración de informes final

La calculadora integrada puede hacerlo todo

Cada paso de inspección, desde la preparación al informe final, se puede realizar de manera integrada, sin necesidad de conectar un ordenador externo ni de utilizar un software de terceros. TOPAZ32 también ofrece una gama de características innovadoras que permiten a los usuarios obtener mayores posibilidades de detectar y mejorar los informes. El corazón del instrumento Topaz32 es su calculadora integrada.

Versátil y duradero

Topaz32 cuenta con una carcasa de magnesio resistente duradera a la par que ligera. Además, TOPAZ32 impide la entrada de aire, lo que evita que penetre polvo, humedad o cualquier sustancia contaminante, haciéndolo ideal para los entornos más desafiantes. TOPAZ32, uno de los instrumentos de Phased Array más versátil disponible en el mercado, se alimenta con el software Ultravision, común en toda la gama de productos ultrasónicos de detección de defectos de Zetec. Puede utilizarse como un potente instrumento independiente o conectado a un PC mediante UltraVision Touch o accionado por UltraVision 3 para conseguir una capacidad ampliada. Su flexibilidad no tiene límites.

Potente elaboración de informes integrada

TOPAZ32 puede generar informes para satisfacer todos los requisitos de los usuarios. Las plantillas integradas están disponibles para proporcionar informes de acuerdo con el nivel de información necesario. Los informes pueden abarcar información de planes de escaneado, muestras y soldadura, parámetros de funcionamiento, tablas de indicación e imágenes individuales con defectos identificados, así como informes completos.